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激光分子束外延设备
  • 激光分子束外延设备
激光分子束外延设备

激光分子束外延设备

设备用途

设备由真空腔室(外延室、进样室)、样品传递机构、样品架、旋转靶台、真空排气、真空测量、电器控制、配气、计算机控制等各部分组成。

产品描述

设备用途

设备用于生长光学晶体、铁电体、铁磁体、超导体和有机化合物薄膜材料,特别适用于生长高熔点、多元素及含有气体元素的复杂层状超晶格薄膜材料。广泛应用于大专院校、科研院所进行薄膜材料的科研与小批量制备。
技术参数:

型号LMBE-450
技术指标
主真空室球形结构,尺寸Ф450mm
进样室筒型卧式结构,尺寸Ф150x300mm
真空系统配置主真空室机械泵、分子泵、离子泵、升华泵、阀门
进样室机械泵、分子泵、阀门
极限压力主真空室≤5.0x10-8Pa(经烘烤除气后)
进样室≤5.0x10-5Pa(经烘烤除气后)
恢复真空时间主真空室20分钟可达5.0x10-3 Pa(短时间暴露大气并充干燥氮气后开始抽气)
进样室20分钟可达5.0x10-3 Pa(短时间暴露大气并充干燥氮气后开始抽气)
旋转靶台靶材最大尺寸2英寸,每次可以装4块靶材,可实现公转换靶每块靶材可自转,转速 5~60转/分
 基片加热台样品尺寸Ф51mm
运动方式基片可连续回转,转速 5~60转/分
加 热基片加热最高温度 800℃±1℃
气路系统质量流量控制器1路全金属角阀1路
   可选部件差分式高能电子衍射仪(RHEED)高能电源:最高能量25KV,最大束流100μA
RHEED强度振荡,生长速率监测系统主要由摄像头,硬件,计算机控制软件包等组成可实现≥20周期膜层振荡曲线
激光束扫描装置二维扫描机械平台,执行两自由度扫描。
计算机控制系统控制包括公转换靶、靶自转、样品自转、样品控温、激光束扫描等
四极质谱仪质量数:1~100
设备占地面积主 机1300x850mm2
电 控 柜700x700mm2(两个)

设备用途

系统主要由外延生长室、制备室、快速进样系统(进样室)、真空获得系统、进样系统、传输导轨、高能电子衍射系统、电器控制系统、计算机控制系统等组成。

设备用途

系统用于纳米级单层及多层功能膜、硬质膜、金属膜、半导体膜、介质膜等新型薄膜材料的制备。可广泛应用于大专院校、科研院所的薄膜材料的科研与小批量制备。

技术参数:

型号MBE-400
技术指标
主真空室尺寸Ф450x765mm(H)
进样室尺⼨Ф300x900mm(L)
真空系统配置主真空室复合分子泵、机械泵、离子泵、升华泵、手动闸板阀
进样室机械泵、分子泵、阀门
极限压力主真空室≤5.0x10-8Pa(经烘烤除气后)
进样室≤1.0x10-6Pa(经烘烤除气后)
恢复真空时间主真空室35分钟可达6.6x10-4 Pa(短时间暴露大气并充干燥氮气后开始抽气)
进样室35分钟可达6.6x10-3 Pa(短时间暴露大气并充干燥氮气后开始抽气)
束 源 炉束源炉数量:8台,采用带水冷结构,源炉加热温度1300℃控温精度±1度,控温器采用日本进口
差分式高能电子衍射仪(RHEED)高能电源:最高能量25KV,最大束流100μA荧光屏:1块观察窗;挡板:1套;照像用黑筒:1套
 制备室转台样品尺寸Ф3英寸
运动方式基片可连续回转,转速 5~60转/分
加 热基片加热最高温度 800℃±1℃
  外延生长室转台样品尺寸Ф3英寸
运动方式基片可连续回转,转速 5~60转/分
加 热基片加热最高温度 800℃±1℃
调整角度手动左侧65°,右侧25°
气路系统质量流量控制器2路,全金属角阀
计算机控制系统泵抽,束源炉挡板开关,样品自转。
设备占地面积主 机1800x1400mm2
电 控 柜700x700mm2(两个)